貼片電容為什么要進行知識老化問題處理?貼片電容的容量隨時間以對數規律可以降低(之稱之為老化)。村田代理一種電容材質。貼片電容全稱為:多層(積層,疊層)片式陶瓷電容器,也稱為貼片電容,片容。貼片電容有兩種表示方法,一種是英寸單位來表示,一種是毫米單位來表示。然而,如果沒有貼片電容發熱溫度明顯高于其介質的居里點時,此時學生產生“去老化”現象,即不同老化過程中發生的容量達到降低公司重新開始恢復,當電容恢復冷卻時,老化又隨時間發展產生。
貼片電容的老化條件:在上限等級溫度或在詳細規范中規定的更高溫度(150 ℃)下1小時后,貼片電容在試驗的標準大氣條件下恢復24 ± 1小時。
隨著時間的推移,各種材料的衰減系數如下圖所示:
貼片電容測試條件:
項目
Item
技術規格
Technical Specification
測試方法
Test Method Remarks
容量
Capacitance
Ⅰ類 ClassⅠ
(COG/NPO)
應符合指定的誤差級別
Shall be within the prescribed limits
標稱容量
Capacitance
測試頻率
Measuring Frequency
測試電壓
Measuring Voltage
≤1000PF
1MHz±10%
1.0V±0.2V
1000PF
1KHz±10%
1.0V±0.2V
Ⅱ類 Class Ⅱ
應符合指定的誤差級別
Shall be within the prescribed limits
C ≤10UF 測試頻率: 1khz ± 10% 1.0 v ± 0.2 v
Test frequency: 1khz 10% Test voltage: 1.0V±0.2V
C10uF
X7R X5R Y5V 測試工作頻率:120Hz±24Hz 0.5V±0.05V
Test frequency: 120hz ± 24Hz Test voltage: 0.5v ± 0.05V
溫度和濕度: 25 ± 5 ° c 50% -70%
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