人體和設(shè)備所攜帶的靜電向整機(jī)及電子元件放電時(shí)，由于增加了沖擊性的電磁能量，則產(chǎn)品必須具備一定量ESD耐力。村田電容ESD耐性測(cè)試方法根據(jù)產(chǎn)生靜電的模型，分為以下三種：
- HBM（Human Body Model：人體模型）：假設(shè)由人體靜電放電時(shí)的測(cè)試②MM
- MM（Machine Model：機(jī)械模型）：假設(shè)由機(jī)械靜電放電時(shí)的測(cè)試③CDM
- CDM（Charged Device Model：帶電設(shè)備模型）：假設(shè)由帶電設(shè)備靜電放電時(shí)的測(cè)試
其中，我們?yōu)槟f明一般較多用作電容器ESD耐性測(cè)試方法的HBM。HBM的ESD測(cè)試規(guī)格有AEC-Q200-002和IEC61000-4-2等，HBM模型常熟如下表所示因規(guī)格有所不同。
| 規(guī)格名 |
充電用電容器 Cd（pF） |
放電用電阻 Rd （Ω） |
| AEC-Q200-002 |
150 |
2000 |
| IEC61000-4-2 |
150 |
330 |
AEC-Q200-002HBM的ESD測(cè)試電路及放電電流波形如圖1、圖2所示。
?1、開關(guān)2為斷開狀態(tài)，開關(guān)1閉合，施加高壓電源，充電用電容器（Cd）存儲(chǔ)電量。
2、 開關(guān)1斷開，開關(guān)2閉合，電對(duì)測(cè)試對(duì)象電容器（Cx）施加Cd存儲(chǔ)的電量，進(jìn)行測(cè)試。
什么是CX:是指測(cè)試對(duì)象電容器 Cd：充電用電容器 Rd：放電用電阻 Rc：保護(hù)電阻。
試電路.gif)
圖1.HBM的ESD測(cè)試電路
圖2.放電電流波形
根據(jù)AEC-Q200-002，HBM的ESD測(cè)試流程如圖3所示，級(jí)分類如表1所示。根據(jù)圖3的流程進(jìn)行測(cè)試，耐電壓的分級(jí)如表1所示進(jìn)行分類。
試流程.gif)
圖3.HBM的ESD測(cè)試流程
HBM的ESD測(cè)試流程如下表所示
| 分類 |
超大耐電壓 |
| 1A |
500V（DC）以下 |
| 1B |
0.5kV（DC）以上 1kV（DC）以下 |
| 1C |
1kV（DC）以上 2kV（DC）以下 |
| 2 |
2kV（DC）以上 4kV（DC）以下 |
| 3 |
4kV（DC）以上 6kV（DC）以下 |
| 4 |
6kV（DC）以上 8kV（DC）以下 |
| 5A |
8kV（DC）以上 12kV（AD）以下 |
| 5B |
12kV（AD）以上 16kV（AD）以下 |
| 5C |
16kV（AD）以上 25kV（AD）以下 |
| 6 |
25kV（AD）以上 |
DC是指直流接觸放電
AD是指空氣放電
以上就是本文全部內(nèi)容，主要介紹了村田電容ESD耐性的測(cè)試方法。如需要采購村田電容，歡迎來電聯(lián)系村田中國一級(jí)代理商深圳智成電子電話18923419196微信同號(hào)。